逆転の発想で不具合のメカニズムを解明する思考テクニックを習得する
IdeationTRIZ FA認定セミナー

Certification Seminar for Failure Analysis

セミナー概要

目的
  • Ideation TRIZの不具合分析(FA:Failure Analysis)は不具合の原因を明らかにするための方法です。つまりこの方法によって、すでに発生しているあるいは観察されている不具合や欠陥の、隠されたまたは不明な点の多い発生メカニズムを、柔軟なアプローチによって一歩一歩着実に明らかにしていくことができるのです。
    Ideation TRIZのFA認定セミナーでは、アイディエーション・インターナショナル社が開発したI-TRIZアプリケーション(FA)を使って、(1)起きてしまった不具合のメカニズムを解明し、(2)その不具合が二度と起きないようにする再発防止策を考える、スキルを身につけていただいた方に、FA認定証を発行します。
  • セミナーでは、I-TRIZアプリケーション(FA)を利用します。
対象者
内容
  1. I-TRIZ > AFD > FA
  2. 先行的不具合対処(AFD)と不具合分析(FA)
  3. AFDの3ステップ
  4. 不具合を起こす資源
  5. 不具合分析の手順
  6. 不具合の是正の手順
  7. チェックリストとオペレータ
  8. 不具合分析・再発防止の事例
  9. 演習問題(1日目、2日目)
【FAアプリケーションの表示例】
FA
主催 一般社団法人I-TRIZ推進協会
日程 当セミナーは、2日間の日程で行なわれます。

次回は未定です
申込締切 -
定員: 10名
お申込みが定員に達したら、お申込み受け付けを終了します。
お申込みはお急ぎ下さい。
* 開催日1週間前の段階で最少催行人数に達しなかった場合には、キャンセルになる場合があります。
* キャンセルになった場合、既にお申込みの方には、ご連絡を差し上げます。
* 受講料をお支払い済みの場合には、返金いたします。
会場 アイディエーション・ジャパン株式会社 セミナールーム
〒103-0016 東京都中央区日本橋小網町19-7 日本橋TCビル 1階
地図はこちら
講師紹介 講師:長谷川公彦

長谷川 公彦

アイディエーション・ジャパン株式会社 CTO
I-TRIZスペシャリスト

NPO法人 日本TRIZ協会理事
NPO法人 知財経営推進協会理事
(社)発明協会 知的財産アドバイザー
【資格】 国際認定TRIZプラクティショナー
認定I-TRIZスペシャリスト
TOCICO認定ジョナ
TOCfE (TOC for Education)国際認定
受講料 90,000円(税別)/1名様


Anticipatory Failure Determination(AFD): Failure Analysis(FA)
(FA:不具合解析)の
推奨学習ステップ

FAは、IdeationTRIZの思考法の基本となるIPSをベースにしながら、逆転の発想によって不具合の原因を明らかにし、それらを是正する手段を検討する方法です。
この分野に取り組む方は、次の体験コースにご参加下さい。
  • IdeationTRIZ認定有資格者数
IPSプラクティショナ認定資格17
IPS(IBS)認定資格60
IPS(PF)認定資格58

(I-TRIZ推進協会発表: 2017/03/31現在)